Accueil
Détail de l'indexation
502.82 : Microscopie |
Ouvrages de la bibliothèque en indexation 502.82
Ajouter le résultat dans votre panier Affiner la rechercheMicroscopie électronique à balayage et microanalyses / Groupement national Microscopie électronique , École d'été (2006; Saint-Martin-d'Hères, Isère)
Titre : Microscopie électronique à balayage et microanalyses Type de document : texte imprimé Auteurs : Groupement national Microscopie électronique École d'été (2006; Saint-Martin-d'Hères, Isère), Auteur ; François Brisset, Editeur scientifique Editeur : Les Ulis : EDP sciences Année de publication : 2008 Importance : 892 p. Présentation : ill. en noir et en coul., couv. ill. en coul. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7598-0082-7 Note générale : Notes bibliogr. Index Langues : Français (fre) Catégories : Livres Tags : Microscopes électroniques à balayage Microscopie électronique: Technique Microstructure (physique): Analyse Index. décimale : 502.82 Microscopie Résumé : Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont au cœur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses Microscopie électronique à balayage et microanalyses [texte imprimé] / Groupement national Microscopie électronique École d'été (2006; Saint-Martin-d'Hères, Isère), Auteur ; François Brisset, Editeur scientifique . - Les Ulis : EDP sciences, 2008 . - 892 p. : ill. en noir et en coul., couv. ill. en coul. ; 25 cm.
ISBN : 978-2-7598-0082-7
Notes bibliogr. Index
Langues : Français (fre)
Catégories : Livres Tags : Microscopes électroniques à balayage Microscopie électronique: Technique Microstructure (physique): Analyse Index. décimale : 502.82 Microscopie Résumé : Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont au cœur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses Réservation
Réserver ce document
Exemplaires (6)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité C1-01188/13 502.82 GRO C1 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Exclu du prêt C2-01187/13 502.82 GRO C2 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible C3-01190/13 502.82 GRO C3 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible C4-01189/13 502.82 GRO C4 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible C5-02336/14 502.82 GRO C5 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible C6-02337/14 502.82 GRO C6 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible
Titre : La microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux, MEB-EG : du principe à l'étude optimisée des matériaux Type de document : texte imprimé Auteurs : Lahcen Khouchaf, Auteur ; Christian Mathieu, Auteur Editeur : Paris : Ellipses Année de publication : 2017 Collection : Formations & techniques Importance : 230 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-340-01806-8 Note générale : Bibliogr. p. 209-212. Index Langues : Français (fre) Catégories : Livres Tags : Microscopes électroniques à balayage Microscopie électronique à balayage Index. décimale : 502.82 Microscopie Résumé : Cet ouvrage est destiné à tous les étudiants qui suivent des formations scientifiques ou techniques en relation avec l'étude des matériaux, aux chercheurs, aux ingénieurs et techniciens de laboratoires. Il traite de l'utilisation de la microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux (MEB-EG). Cette technique est très répandue aussi bien dans le monde académique qu'industriel. Avec les avancées dans le domaine des matériaux, il devient crucial de pouvoir étudier les matériaux dans des conditions réelles d'utilisation.
Le MEB-EG est une technique de choix pour étudier tout type de matériaux et nanomatériaux quel que soit son état : sec, humide, isolant, conducteur... Cet ouvrage s'articule autour de trois parties. Une première partie concerne le fonctionnement du MEB conventionnel (MEB-C) et ses limites. La seconde partie détaille le fonctionnement du MEB-EG en relation avec la présence du gaz et ses effets. Le contenu de la troisième partie permet à l'expérimentateur de choisir les meilleures conditions pour l'imagerie et pour la microanalyse X dans le MEB-EG.
Cet ouvrage est une référence pour les utilisateurs des MEB environnementaux (ESEM) et à pression variable ou contrôlée (VP-SEM, CP-SEM).La microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux, MEB-EG : du principe à l'étude optimisée des matériaux [texte imprimé] / Lahcen Khouchaf, Auteur ; Christian Mathieu, Auteur . - Paris : Ellipses, 2017 . - 230 p. : ill. ; 24 cm. - (Formations & techniques) .
ISBN : 978-2-340-01806-8
Bibliogr. p. 209-212. Index
Langues : Français (fre)
Catégories : Livres Tags : Microscopes électroniques à balayage Microscopie électronique à balayage Index. décimale : 502.82 Microscopie Résumé : Cet ouvrage est destiné à tous les étudiants qui suivent des formations scientifiques ou techniques en relation avec l'étude des matériaux, aux chercheurs, aux ingénieurs et techniciens de laboratoires. Il traite de l'utilisation de la microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux (MEB-EG). Cette technique est très répandue aussi bien dans le monde académique qu'industriel. Avec les avancées dans le domaine des matériaux, il devient crucial de pouvoir étudier les matériaux dans des conditions réelles d'utilisation.
Le MEB-EG est une technique de choix pour étudier tout type de matériaux et nanomatériaux quel que soit son état : sec, humide, isolant, conducteur... Cet ouvrage s'articule autour de trois parties. Une première partie concerne le fonctionnement du MEB conventionnel (MEB-C) et ses limites. La seconde partie détaille le fonctionnement du MEB-EG en relation avec la présence du gaz et ses effets. Le contenu de la troisième partie permet à l'expérimentateur de choisir les meilleures conditions pour l'imagerie et pour la microanalyse X dans le MEB-EG.
Cet ouvrage est une référence pour les utilisateurs des MEB environnementaux (ESEM) et à pression variable ou contrôlée (VP-SEM, CP-SEM).Réservation
Réserver ce document
Exemplaires (8)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité C1-06949/18 502.82 KHO C1 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Exclu du prêt C2-06950/18 502.82 KHO C2 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible C3-06951/18 502.82 KHO C3 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible C4-06952/18 502.82 KHO C4 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible C5-08250/22 502.82 KHO C5 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible C6-08251/22 502.82 KHO C6 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible C7-08252/22 502.82 KHO C7 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible C8-08253/22 502.82 KHO C8 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible
Titre : Préparation des échantillons pour MEB et microanalyses Type de document : texte imprimé Auteurs : Groupement national Microscopie électronique à balayage et microanalyses, Auteur ; Philippe Jonnard, Editeur scientifique Editeur : Les Ulis : EDP sciences Année de publication : 2011 Importance : 216 p. Présentation : ill. en noir et en coul., couv. ill. en coul. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7598-0676-8 Note générale : MEB = Microscopie électronique et balayage
Publié a l'occasion de 2 journées pédagogiques organisées a Paris par le Groupement national de microscopie électronique é balayage et de microanalyses
Notes bibliogr.Langues : Français (fre) Catégories : Livres Tags : Microscopie électronique Congrés échantillons microscopiques Préparation Microchimie Index. décimale : 502.82 Microscopie Résumé : Préparation des échantillons pour MEB et Microanalyses Publication du Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de Microanalyses éditée par Philippe Jonnard en collaboration avec François Brisset La microscopie électronique à balayage et les microanalyses sont employées très largement dans les secteurs académiques et industrieb pour imager, caractériser et quantifier des échantillons solides de toute nature. Pour effectuer des analyses de qualité, précises et reproductives il n'est souvent pas possible d'utiliser un échantillon tel quel. Une phase préalable de préparation est nécessaire. C'est le but de cet ouvrage d'expliquer aux lecteurs et utilisateurs du MEB et des microanalyses les différents moyens de réaliser cette étape cruciale précédant leur analyse. Les différents chapitres reprennent les thèmes abordés lors des journées pédagogiques du GN-MEBA consacrées à la « Préparation des échantillons pour les observations en MEB et les analyses ». Ce sont la découpe, l'enrobage, les polissages mécanique et ionique, le décapage et l'attaque métallographique, le nettoyage et la décontamination, la préparation d'échantillons minces, la fixation, le stockage, la métallisation, le marquage de surface et la préparation d'échantillons mous. Ce livre intéressera donc particulièrement les expérimentateurs désireux de connaître les différentes techniques actuelles de préparation et de conservation des échantillons. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications, en langue française, du GN-MEBA consacrée aux principes, techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation utilisés en microscopie électronique à balayage et en microanalyses.
Préparation des échantillons pour MEB et microanalyses [texte imprimé] / Groupement national Microscopie électronique à balayage et microanalyses, Auteur ; Philippe Jonnard, Editeur scientifique . - Les Ulis : EDP sciences, 2011 . - 216 p. : ill. en noir et en coul., couv. ill. en coul. ; 25 cm.
ISBN : 978-2-7598-0676-8
MEB = Microscopie électronique et balayage
Publié a l'occasion de 2 journées pédagogiques organisées a Paris par le Groupement national de microscopie électronique é balayage et de microanalyses
Notes bibliogr.
Langues : Français (fre)
Catégories : Livres Tags : Microscopie électronique Congrés échantillons microscopiques Préparation Microchimie Index. décimale : 502.82 Microscopie Résumé : Préparation des échantillons pour MEB et Microanalyses Publication du Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de Microanalyses éditée par Philippe Jonnard en collaboration avec François Brisset La microscopie électronique à balayage et les microanalyses sont employées très largement dans les secteurs académiques et industrieb pour imager, caractériser et quantifier des échantillons solides de toute nature. Pour effectuer des analyses de qualité, précises et reproductives il n'est souvent pas possible d'utiliser un échantillon tel quel. Une phase préalable de préparation est nécessaire. C'est le but de cet ouvrage d'expliquer aux lecteurs et utilisateurs du MEB et des microanalyses les différents moyens de réaliser cette étape cruciale précédant leur analyse. Les différents chapitres reprennent les thèmes abordés lors des journées pédagogiques du GN-MEBA consacrées à la « Préparation des échantillons pour les observations en MEB et les analyses ». Ce sont la découpe, l'enrobage, les polissages mécanique et ionique, le décapage et l'attaque métallographique, le nettoyage et la décontamination, la préparation d'échantillons minces, la fixation, le stockage, la métallisation, le marquage de surface et la préparation d'échantillons mous. Ce livre intéressera donc particulièrement les expérimentateurs désireux de connaître les différentes techniques actuelles de préparation et de conservation des échantillons. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications, en langue française, du GN-MEBA consacrée aux principes, techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation utilisés en microscopie électronique à balayage et en microanalyses.
Réservation
Réserver ce document
Exemplaires (2)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité C1-07080/18 502.82 GRO C1 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Exclu du prêt C2-07081/18 502.82 GRO C2 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible
Titre : Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis Type de document : texte imprimé Auteurs : Joseph I. Goldstein ; Dale E. Newbury ; Charles E. Lyman ; Eric Lifshin Mention d'édition : Third edition Editeur : New York : Springer Année de publication : 2007 Importance : 690 p. Présentation : ill. en noir et blanc et en couleur Format : 26 cm. ISBN/ISSN/EAN : 978-1-4613-4969-3 Note générale : Index Langues : Anglais (eng) Catégories : Livres Tags : Microscopie électronique à balayage Microanalyse par émission X Index. décimale : 502.82 Microscopie Résumé : In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers. The emergence of the variab- pressure/environmental SEM has enabled the observation of samples c- taining water or other liquids or vapor and has allowed for an entirely new class of dynamic experiments, that of direct observation of che- cal reactions in situ. Critical advances in electron detector technology and computer-aided analysis have enabled structural (crystallographic) analysis of specimens at the micrometer scale through electron backscatter diffr- tion (EBSD). Low-voltage operation below 5 kV has improved x-ray spatial resolution by more than an order of magnitude and provided an effective route to minimizing sample charging. High-resolution imaging has cont- ued to develop with a more thorough understanding of how secondary el- trons are generated. The ?eld emission gun SEM, with its high brightness, advanced electron optics, which minimizes lens aberrations to yield an - fective nanometer-scale beam, and “through-the-lens” detector to enhance the measurement of primary-beam-excited secondary electrons, has made high-resolution imaging the rule rather than the exception. Methods of x-ray analysis have evolved allowing for better measurement of specimens with complex morphology: multiple thin layers of different compositions, and rough specimens and particles. Digital mapping has transformed classic x-ray area scanning, a purely qualitative technique, into fully quantitative compositional mapping.
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis [texte imprimé] / Joseph I. Goldstein ; Dale E. Newbury ; Charles E. Lyman ; Eric Lifshin . - Third edition . - New York : Springer, 2007 . - 690 p. : ill. en noir et blanc et en couleur ; 26 cm.
ISBN : 978-1-4613-4969-3
Index
Langues : Anglais (eng)
Catégories : Livres Tags : Microscopie électronique à balayage Microanalyse par émission X Index. décimale : 502.82 Microscopie Résumé : In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers. The emergence of the variab- pressure/environmental SEM has enabled the observation of samples c- taining water or other liquids or vapor and has allowed for an entirely new class of dynamic experiments, that of direct observation of che- cal reactions in situ. Critical advances in electron detector technology and computer-aided analysis have enabled structural (crystallographic) analysis of specimens at the micrometer scale through electron backscatter diffr- tion (EBSD). Low-voltage operation below 5 kV has improved x-ray spatial resolution by more than an order of magnitude and provided an effective route to minimizing sample charging. High-resolution imaging has cont- ued to develop with a more thorough understanding of how secondary el- trons are generated. The ?eld emission gun SEM, with its high brightness, advanced electron optics, which minimizes lens aberrations to yield an - fective nanometer-scale beam, and “through-the-lens” detector to enhance the measurement of primary-beam-excited secondary electrons, has made high-resolution imaging the rule rather than the exception. Methods of x-ray analysis have evolved allowing for better measurement of specimens with complex morphology: multiple thin layers of different compositions, and rough specimens and particles. Digital mapping has transformed classic x-ray area scanning, a purely qualitative technique, into fully quantitative compositional mapping.
Réservation
Réserver ce document
Exemplaires (3)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité C1-00255/11 502.82 GOL C1 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Exclu du prêt C2-07114/18 502.82 GOL C2 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible C3-07115/18 502.82 GOL C3 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible
Titre : Scanning electron microscopy, X-ray microanalysis, and analytical electron microscopy : a laboratory workbook Type de document : texte imprimé Auteurs : Joseph I. Goldstein, Auteur ; Charles E. Lyman, Auteur Editeur : New York : Plenum press Année de publication : 1990 Importance : 407 p. Présentation : ill. Format : 26 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-306-43591-1 Note générale : Reliure mobile
IndexLangues : Anglais (eng) Catégories : Livres Tags : Microscopie électronique à balayage Manuels de laboratoire Microscopie électronique Microanalyse par émission X Index. décimale : 502.82 Microscopie Résumé : During the last four decades remarkable developments have taken place in instrumentation and techniques for characterizing the microstructure and microcomposition of materials. Some of the most important of these instruments involve the use of electron beams because of the wealth of information that can be obtained from the interaction of electron beams with matter. The principal instruments include the scanning electron microscope, electron probe x-ray microanalyzer, and the analytical transmission electron microscope. The training of students to use these instruments and to apply the new techniques that are possible with them is an important function, which. has been carried out by formal classes in universities and colleges and by special summer courses such as the ones offered for the past 19 years at Lehigh University. Laboratory work, which should be an integral part of such courses, is often hindered by the lack of a suitable laboratory workbook. While laboratory workbooks for transmission electron microscopy have-been in existence for many years, the broad range of topics that must be dealt with in scanning electron microscopy and microanalysis has made it difficult for instructors to devise meaningful experiments. The present workbook provides a series of fundamental experiments to aid in "hands-on" learning of the use of the instrumentation and the techniques. It is written by a group of eminently qualified scientists and educators. The importance of hands-on learning cannot be overemphasized. Scanning electron microscopy, X-ray microanalysis, and analytical electron microscopy : a laboratory workbook [texte imprimé] / Joseph I. Goldstein, Auteur ; Charles E. Lyman, Auteur . - New York : Plenum press, 1990 . - 407 p. : ill. ; 26 cm.
ISBN : 978-0-306-43591-1
Reliure mobile
Index
Langues : Anglais (eng)
Catégories : Livres Tags : Microscopie électronique à balayage Manuels de laboratoire Microscopie électronique Microanalyse par émission X Index. décimale : 502.82 Microscopie Résumé : During the last four decades remarkable developments have taken place in instrumentation and techniques for characterizing the microstructure and microcomposition of materials. Some of the most important of these instruments involve the use of electron beams because of the wealth of information that can be obtained from the interaction of electron beams with matter. The principal instruments include the scanning electron microscope, electron probe x-ray microanalyzer, and the analytical transmission electron microscope. The training of students to use these instruments and to apply the new techniques that are possible with them is an important function, which. has been carried out by formal classes in universities and colleges and by special summer courses such as the ones offered for the past 19 years at Lehigh University. Laboratory work, which should be an integral part of such courses, is often hindered by the lack of a suitable laboratory workbook. While laboratory workbooks for transmission electron microscopy have-been in existence for many years, the broad range of topics that must be dealt with in scanning electron microscopy and microanalysis has made it difficult for instructors to devise meaningful experiments. The present workbook provides a series of fundamental experiments to aid in "hands-on" learning of the use of the instrumentation and the techniques. It is written by a group of eminently qualified scientists and educators. The importance of hands-on learning cannot be overemphasized. Réservation
Réserver ce document
Exemplaires (2)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité C1-07116/18 502.82 SCA C1 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Exclu du prêt C2-07117/18 502.82 SCA C2 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Sciences Naturelles et Mathématiques Disponible
