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| Titre : |
La microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux, MEB-EG : du principe à l'étude optimisée des matériaux |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Lahcen Khouchaf, Auteur ; Christian Mathieu, Auteur |
| Editeur : |
Paris : Ellipses |
| Année de publication : |
2017 |
| Collection : |
Formations & techniques |
| Importance : |
230 p. |
| Présentation : |
ill. |
| Format : |
24 cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-2-340-01806-8 |
| Note générale : |
Bibliogr. p. 209-212. Index |
| Langues : |
Français (fre) |
| Tags : |
Microscopes électroniques à balayage Microscopie électronique à balayage |
| Index. décimale : |
502.82 Microscopie |
| Résumé : |
Cet ouvrage est destiné à tous les étudiants qui suivent des formations scientifiques ou techniques en relation avec l'étude des matériaux, aux chercheurs, aux ingénieurs et techniciens de laboratoires. Il traite de l'utilisation de la microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux (MEB-EG). Cette technique est très répandue aussi bien dans le monde académique qu'industriel. Avec les avancées dans le domaine des matériaux, il devient crucial de pouvoir étudier les matériaux dans des conditions réelles d'utilisation.
Le MEB-EG est une technique de choix pour étudier tout type de matériaux et nanomatériaux quel que soit son état : sec, humide, isolant, conducteur... Cet ouvrage s'articule autour de trois parties. Une première partie concerne le fonctionnement du MEB conventionnel (MEB-C) et ses limites. La seconde partie détaille le fonctionnement du MEB-EG en relation avec la présence du gaz et ses effets. Le contenu de la troisième partie permet à l'expérimentateur de choisir les meilleures conditions pour l'imagerie et pour la microanalyse X dans le MEB-EG.
Cet ouvrage est une référence pour les utilisateurs des MEB environnementaux (ESEM) et à pression variable ou contrôlée (VP-SEM, CP-SEM). |
La microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux, MEB-EG : du principe à l'étude optimisée des matériaux [texte imprimé] / Lahcen Khouchaf, Auteur ; Christian Mathieu, Auteur . - Paris : Ellipses, 2017 . - 230 p. : ill. ; 24 cm. - ( Formations & techniques) . ISBN : 978-2-340-01806-8 Bibliogr. p. 209-212. Index Langues : Français ( fre)
| Tags : |
Microscopes électroniques à balayage Microscopie électronique à balayage |
| Index. décimale : |
502.82 Microscopie |
| Résumé : |
Cet ouvrage est destiné à tous les étudiants qui suivent des formations scientifiques ou techniques en relation avec l'étude des matériaux, aux chercheurs, aux ingénieurs et techniciens de laboratoires. Il traite de l'utilisation de la microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux (MEB-EG). Cette technique est très répandue aussi bien dans le monde académique qu'industriel. Avec les avancées dans le domaine des matériaux, il devient crucial de pouvoir étudier les matériaux dans des conditions réelles d'utilisation.
Le MEB-EG est une technique de choix pour étudier tout type de matériaux et nanomatériaux quel que soit son état : sec, humide, isolant, conducteur... Cet ouvrage s'articule autour de trois parties. Une première partie concerne le fonctionnement du MEB conventionnel (MEB-C) et ses limites. La seconde partie détaille le fonctionnement du MEB-EG en relation avec la présence du gaz et ses effets. Le contenu de la troisième partie permet à l'expérimentateur de choisir les meilleures conditions pour l'imagerie et pour la microanalyse X dans le MEB-EG.
Cet ouvrage est une référence pour les utilisateurs des MEB environnementaux (ESEM) et à pression variable ou contrôlée (VP-SEM, CP-SEM). |
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