Titre :	Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	Claude Esnouf, Auteur
Editeur :	Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes
Année de publication :	2011
Collection :	Metis LyonTech
Importance :	579 p.
Présentation :	ill., couv. ill.
Format :	24 cm
ISBN/ISSN/EAN :	978-2-88074-884-5
Note générale :	Notes bibliogr. Index Diff. en France
Langues :	Français (fre)
Catégories :	Livres
Tags :	Microstructure (physique)  rayonnement X  Matériaux
Index. décimale :	620.11 Matériaux de l'ingénieur
Résumé :	Présentation pédagogique et exhaustive de l'ensemble des bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matérieux utilisant les rayonnements X et électroniques, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant de grands instruments scientifiques.

Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique [texte imprimé] / Claude Esnouf, Auteur . - Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes, 2011 . - 579 p. : ill., couv. ill. ; 24 cm. - (Metis LyonTech) .
ISBN : 978-2-88074-884-5
Notes bibliogr. Index
Diff. en France
Langues : Français (fre)

Catégories :	Livres
Tags :	Microstructure (physique)  rayonnement X  Matériaux
Index. décimale :	620.11 Matériaux de l'ingénieur
Résumé :	Présentation pédagogique et exhaustive de l'ensemble des bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matérieux utilisant les rayonnements X et électroniques, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant de grands instruments scientifiques.