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Auteur René Guinebretière |
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Titre : Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins : instrumentation et étude de la microstructure Type de document : texte imprimé Auteurs : René Guinebretière, Auteur Mention d'édition : 2e éd. revue et augmentée Editeur : Paris : Hermès science publications-Lavoisier Année de publication : 2006 Importance : 361 p. Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-2-7462-1238-1 Note générale : Bibliogr. p. 331-358. Index Langues : Français (fre) Catégories : Livres Tags : Radiocristallographie Polycristaux: Analyse Index. décimale : 548 Cristallographie Résumé : Cet ouvrage est la deuxième édition d'une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de la plupart de ses applications en science des matériaux. Après une introduction historique décrivant les étapes de la découverte de la diffraction des rayons X depuis la découverte des rayons X eux-mêmes, l'ouvrage présente, dans sa première partie, la théorie cinématique de la diffraction des rayons X, les instruments de mesure utilisés en diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins, puis les méthodes modernes de traitement des diagrammes réalisés, et enfin, les principales applications conventionnelles de la diffraction sur échantillons polycristallins. Dans une deuxième partie, ce livre traite de l'étude quantitative par diffraction des rayons X de la microstructure des matériaux nanostructurés. Il analyse les fondements théoriques de ce type d'étude, la caractérisation des matériaux polycristallins d'orientation aléatoire et enfin, l'étude des couches minces épitaxiées Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins : instrumentation et étude de la microstructure [texte imprimé] / René Guinebretière, Auteur . - 2e éd. revue et augmentée . - Paris : Hermès science publications-Lavoisier, 2006 . - 361 p. : ill. ; 24 cm.
ISBN : 978-2-7462-1238-1
Bibliogr. p. 331-358. Index
Langues : Français (fre)
Catégories : Livres Tags : Radiocristallographie Polycristaux: Analyse Index. décimale : 548 Cristallographie Résumé : Cet ouvrage est la deuxième édition d'une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de la plupart de ses applications en science des matériaux. Après une introduction historique décrivant les étapes de la découverte de la diffraction des rayons X depuis la découverte des rayons X eux-mêmes, l'ouvrage présente, dans sa première partie, la théorie cinématique de la diffraction des rayons X, les instruments de mesure utilisés en diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins, puis les méthodes modernes de traitement des diagrammes réalisés, et enfin, les principales applications conventionnelles de la diffraction sur échantillons polycristallins. Dans une deuxième partie, ce livre traite de l'étude quantitative par diffraction des rayons X de la microstructure des matériaux nanostructurés. Il analyse les fondements théoriques de ce type d'étude, la caractérisation des matériaux polycristallins d'orientation aléatoire et enfin, l'étude des couches minces épitaxiées Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité C1-01253/13 548 GUI C1 Livre 2ème Cycle.(Salle 3ème Étage) Chimie Exclu du prêt C2-01254/13 548 GUI C2 Livre 2ème Cycle.(Salle 3ème Étage) Chimie Disponible C3-01255/13 548 GUI C3 Livre 2ème Cycle.(Salle 3ème Étage) Chimie Disponible C4-01256/13 548 GUI C4 Livre 2ème Cycle.(Salle 3ème Étage) Chimie Disponible C5-00083/11 548 GUI C5 Livre 2ème Cycle.(Salle 3ème Étage) Chimie Disponible Rayons X et matière 4
Titre : Rayons X et matière 4 : RX 2011 Type de document : texte imprimé Auteurs : René Guinebretière, Directeur de publication, rédacteur en chef ; Philippe Goudeau, Directeur de publication, rédacteur en chef Editeur : [London] : ISTE editions Année de publication : 2016 Importance : 279 p. Présentation : ill. Format : 23 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-1-78405-112-9 Note générale : Notes bibliogr. Langues : Français (fre) Catégories : Livres Tags : Rayons X Tomographie Index. décimale : 539.7 Physique atomique et nucléaire Résumé : Pédagogiques, les ouvrages Rayons X et Matière proposent une synthèse complète, aussi bien au niveau des instruments, de la méthodologie, des applications ou des travaux dans lesquels l'interaction entre les rayons X et la matière condensée est mise en œuvre.
Rayons X et Matière 4 est fortement axé sur l’utilisation du rayonnement synchrotron, outil puissant très largement utilisé par des communautés scientifiques pluridisciplinaires pour l’exploration de la matière dans de nouvelles directions. Cette quatrième édition traite de manière générale ou dans le cadre de mises en œuvre très spécifiques, des sources de rayons X, de la diffraction, de la diffusion, de l’absorption et de la tomographie appliquées à des domaines très variés.
Rédigé par des spécialistes de renom, ce livre est issu des conférences invitées qui ont été présentées lors du colloque « Rayons X et matière – RX2011 ».Rayons X et matière 4 : RX 2011 [texte imprimé] / René Guinebretière, Directeur de publication, rédacteur en chef ; Philippe Goudeau, Directeur de publication, rédacteur en chef . - [London] : ISTE editions, 2016 . - 279 p. : ill. ; 23 cm.
ISBN : 978-1-78405-112-9
Notes bibliogr.
Langues : Français (fre)
Catégories : Livres Tags : Rayons X Tomographie Index. décimale : 539.7 Physique atomique et nucléaire Résumé : Pédagogiques, les ouvrages Rayons X et Matière proposent une synthèse complète, aussi bien au niveau des instruments, de la méthodologie, des applications ou des travaux dans lesquels l'interaction entre les rayons X et la matière condensée est mise en œuvre.
Rayons X et Matière 4 est fortement axé sur l’utilisation du rayonnement synchrotron, outil puissant très largement utilisé par des communautés scientifiques pluridisciplinaires pour l’exploration de la matière dans de nouvelles directions. Cette quatrième édition traite de manière générale ou dans le cadre de mises en œuvre très spécifiques, des sources de rayons X, de la diffraction, de la diffusion, de l’absorption et de la tomographie appliquées à des domaines très variés.
Rédigé par des spécialistes de renom, ce livre est issu des conférences invitées qui ont été présentées lors du colloque « Rayons X et matière – RX2011 ».Réservation
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Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité C1-07092/18 539.7 RAY C1 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Physique Exclu du prêt C2-07093/18 539.7 RAY C2 Livre 1er Cycle.(Salle 2ème Étage) Physique Disponible
